儿童双侧额顶叶出现多发点状、小片状t2/flaig高信号是何原因
双侧额顶叶出现多发点状、小片状 T2/Flair 高信号通常与脑白质损伤有关,常见原因包括缺氧缺血性脑病、感染性脑炎、代谢性疾病等。
T2/Flair 高信号是磁共振成像(MRI)中的一种表现,T2 加权成像(T2WI)和液体衰减反转恢复序列(Flair)常用于检测脑部病变。T2/Flair 高信号表示脑组织含水量增加,提示可能存在脑白质损伤。
1. 缺氧缺血性脑病:是一种因缺氧或缺血导致的脑损伤,多见于早产儿、有严重窒息史的新生儿,主要表现为意识障碍、惊厥、肌张力改变等。
2. 感染性脑炎:是由病毒、细菌、寄生虫等引起的脑实质感染,多见于儿童和青少年,主要表现为发热、头痛、意识障碍、抽搐等。
3. 代谢性疾病:如肾上腺脑白质营养不良、异染性脑白质营养不良等,是一组由于遗传代谢障碍导致的脑白质进行性损伤的疾病,主要表现为进行性智能减退、运动障碍、共济失调等。
需要注意的是,T2/Flair 高信号还可能见于其他原因。因此,如果检查中发现异常信号,建议及时咨询医生,以便获得准确的诊断和治疗建议。建议患者遵循医生的建议进行治疗。
*更新时间:2024-03-07
*重要提示:科普内容不能作为疾病治疗依据,如有不适请前往正规医院就诊,根据个人情况科学治疗。
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